A new method to measure fast defect transients in semiconductor and/or insulator samples

Tartalom:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/003811019290067M/pdf?md5=b2f145ec6c9b640ec73c72d...
Archívum:	REAL
Gyűjtemény:	Status = Published Subject = Q Science / természettudomány: QC Physics / fizika: QC06 Physics of condensed matter / szilárdtestfizika Subject = T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok: TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering / elektrotechnika, elektronika, atomtechnika Subject = T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok: TA Engineering (General). Civil engineering (General) / általános mérnöki tudományok Subject = Q Science / természettudomány: QC Physics / fizika Type = Article
Cím:	A new method to measure fast defect transients in semiconductor and/or insulator samples
Létrehozó:	Dózsa, László
Dátum:	1992
Téma:	QC Physics / fizika QC06 Physics of condensed matter / szilárdtestfizika TA Engineering (General). Civil engineering (General) / általános mérnöki tudományok TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering / elektrotechnika, elektronika, atomtechnika
Típus:	Article PeerReviewed
Formátum:	text
Azonosító:	http://real.mtak.hu/7277/1/1205870.PDF Dózsa, László (1992) A new method to measure fast defect transients in semiconductor and/or insulator samples. SOLID-STATE ELECTRONICS, 35 (2). pp. 228-230. ISSN 0038-1101
Kapcsolat:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/003811019290067M/pdf?md5=b2f145ec6c9b640ec73c72dab... http://real.mtak.hu/7277/

TUdományos DOkumentumok Közös Keresője