Ugrás a tartalomhoz
TUdományos DOkumentumok Közös Keresője
OJS/OCS közös kereső
Egyéb források
in English
|
magyarul
Betűméret:
Súgó
Kereső
Címlap
Keresés
Archívumok
Súgó
Bejelentkezés
Belépés
Jelszó
Regisztráció
Kapcsolat
MTA KIK
HUN-REN SZTAKI DSD
Extending the thermal transient testing methodology for reliability testing of power electronics components
A termikus tranziens tesztelés módszerének kiterjesztése teljesítményelektronikai eszközök megbízhatósági tesztelésére
Metaadatok
Tartalom:
http://hdl.handle.net/10890/52804
Archívum:
Műegyetem Digitális Archívum
Gyűjtemény:
3. Disszertációk (BME)
Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola
Cím:
Extending the thermal transient testing methodology for reliability testing of power electronics components
A termikus tranziens tesztelés módszerének kiterjesztése teljesítményelektronikai eszközök megbízhatósági tesztelésére
Létrehozó:
Sárkány, Zoltán
Közreműködő:
Rencz, Márta
Dátum:
2023-10-30T08:47:42Z
2023-10-30T08:47:42Z
2023
Nyelv:
angol
Típus:
Disszertáció
Formátum:
application/pdf
application/pdf
application/pdf
Azonosító:
http://hdl.handle.net/10890/52804