Kereső
Bejelentkezés
Kapcsolat
![]() |
Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával |
Tartalom: | https://real-phd.mtak.hu/511/ |
---|---|
Archívum: | REAL-PhD |
Gyűjtemény: |
Status = Defended
Subject = Q Science / természettudomány: QC Physics / fizika Type = Thesis University = Pannon Egyetem |
Cím: |
Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával
|
Létrehozó: |
Agócs, Emil
|
Kiadó: |
Pannon Egyetem
|
Dátum: |
2015
|
Téma: |
QC Physics / fizika
|
Nyelv: |
magyar
|
Típus: |
Thesis
NonPeerReviewed
|
Formátum: |
text
|
Azonosító: |
Agócs, Emil (2015) Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával. PhD thesis, Pannon Egyetem.
|
Kapcsolat: |
MTMT:2966939
|