Ugrás a tartalomhoz

Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával

  • Metaadatok
Tartalom: https://real-phd.mtak.hu/511/
Archívum: REAL-PhD
Gyűjtemény: Status = Defended
Subject = Q Science / természettudomány: QC Physics / fizika
Type = Thesis
University = Pannon Egyetem
Cím:
Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával
Létrehozó:
Agócs, Emil
Kiadó:
Pannon Egyetem
Dátum:
2015
Téma:
QC Physics / fizika
Nyelv:
magyar
Típus:
Thesis
NonPeerReviewed
Formátum:
text
Azonosító:
Agócs, Emil (2015) Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával. PhD thesis, Pannon Egyetem.
Kapcsolat:
MTMT:2966939